En la microelectrónica, incluso las más pequeñas desviaciones resultan en errores de primaria y secundaria de residuos, por ejemplo, en las obleas de producción y los chips de computadora.
El uso de luz láser puede mostrar exactamente los límites materiales de "milímetros" y después, un sistema de cámaras para pruebas errores
Ajustes de precisión
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